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定制X光安檢機(jī)測(cè)試箱
X光安檢機(jī)測(cè)試箱
廊坊玉雙儀器設(shè)備有限公司為實(shí)體廠家，有著十年以上的加工生產(chǎn)經(jīng)驗(yàn)，產(chǎn)品生產(chǎn)銷售編號(hào)：20230307-06。
-包含6組測(cè)試卡:線分辨率測(cè)試卡、線穿透分辨力測(cè)試卡、空間分辨率
測(cè)試卡、穿透力測(cè)試卡(薄)、穿透力測(cè)試卡(厚)、有機(jī)物/無(wú)機(jī)物分辨:
測(cè)試卡;
-線分辨率測(cè)試卡由一組錫青銅線組成。每條銅線代表一一個(gè)精度。通過(guò)觀
察銅線，檢測(cè)設(shè)備的分辨力。規(guī)格:5105/2546/201
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定制車站安檢機(jī)檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)箱
車站安檢機(jī)檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)箱
廊坊玉雙儀器設(shè)備有限公司為實(shí)體廠家，有著十年以上的加工生產(chǎn)經(jīng)驗(yàn)，產(chǎn)品生產(chǎn)銷售編號(hào)：20230307-05。
安檢設(shè)備日常測(cè)試體用于日常測(cè)試X射線設(shè)備的成像效果，至少包括圖像解析度測(cè)試體（包括線分辨力測(cè)試卡、穿透力測(cè)試卡）、材料分辨測(cè)試體（包括有機(jī)物階梯、混合物階梯、無(wú)機(jī)物階梯）、常見(jiàn)危險(xiǎn)物品違禁物品測(cè)試體（包括液體、鋰電池、打火機(jī)）等3個(gè)部分。
包含檢測(cè)證書和手提箱。
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定制安檢設(shè)備測(cè)試箱AB
安檢設(shè)備測(cè)試箱AB
廊坊玉雙儀器設(shè)備有限公司為實(shí)體廠家，有著十年以上的加工生產(chǎn)經(jīng)驗(yàn)，產(chǎn)品生產(chǎn)銷售編號(hào)：20230307-04。
產(chǎn)品適用范圍：用于微劑量X射線安全檢查設(shè)備測(cè)試體的*次校準(zhǔn)、后續(xù)校準(zhǔn)及使用中檢驗(yàn)。
目測(cè)顯示器中測(cè)試體A的X射線圖像，判斷安檢設(shè)備能分辨的圓形鉛塊所對(duì)應(yīng)鋼階梯的*大數(shù)字值即為安檢設(shè)備能穿透的鋼板的厚度值。如果可以看到被鋼板遮擋的圓形鉛塊的絕大部分，則可認(rèn)為安檢設(shè)備能穿透此
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定制機(jī)場(chǎng)安檢設(shè)備檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)箱
機(jī)場(chǎng)安檢設(shè)備檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)箱
廊坊玉雙儀器設(shè)備有限公司為實(shí)體廠家，有著十年以上的加工生產(chǎn)經(jīng)驗(yàn)，產(chǎn)品生產(chǎn)銷售編號(hào)：20230307-03。
安檢設(shè)備日常測(cè)試體用于日常測(cè)試X射線設(shè)備的成像效果，至少包括圖像解析度測(cè)試體（包括線分辨力測(cè)試卡、穿透力測(cè)試卡）、材料分辨測(cè)試體（包括有機(jī)物階梯、混合物階梯、無(wú)機(jī)物階梯）、常見(jiàn)危險(xiǎn)物品違禁物品測(cè)試體（包括液體、鋰電池、打火機(jī)）等3個(gè)部分。
用于測(cè)試和評(píng)價(jià)x射線圖像性能
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定制X光安檢機(jī)檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)箱
X光安檢機(jī)檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)箱
廊坊玉雙儀器設(shè)備有限公司為實(shí)體廠家，有著十年以上的加工生產(chǎn)經(jīng)驗(yàn)，產(chǎn)品生產(chǎn)銷售編號(hào)：20230307-02。
X射線安檢機(jī)測(cè)試模體本產(chǎn)品符合GB15208.2- 2018《微劑量X射線安全檢
查設(shè)備第2部分:透射式行包安全檢查設(shè)備》要求，產(chǎn)品包括測(cè)試箱體A和測(cè)試箱體B兩部分。
圖形分辨力：安檢設(shè)備正常運(yùn)行，測(cè)試體A放置在檢測(cè)區(qū)域傳送帶上的*佳位置，測(cè)試體平面垂直于射線發(fā)
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定制X射線設(shè)備日常測(cè)試箱
X射線設(shè)備日常測(cè)試箱
廊坊玉雙儀器設(shè)備有限公司為實(shí)體廠家，有著十年以上的加工生產(chǎn)經(jīng)驗(yàn)，產(chǎn)品生產(chǎn)銷售編號(hào)：20230307-01。
本產(chǎn)品符合GB15208.2- 2018《微劑量X射線安全檢查設(shè)備第2部分:透射式行包安全檢查設(shè)備》要求，產(chǎn)品包括測(cè)試箱體A和測(cè)試箱體B兩部分。測(cè)試體A為圖像解析度測(cè)試體，用于測(cè)試設(shè)備的線分辨力、穿透分辨力、空間分辨力和穿透力;測(cè)試箱B為材料分辨測(cè)試體，用于測(cè)試設(shè)備
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2025-02-17
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